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錦鋒科技 SC1259模數轉換器可兼容AD9258 中文規格書。

SC1259 是一款單芯片、雙通道、14 位、100MSPS/105MSPS/125MSPS 模數轉換器（ADC），采用 1.8V 電源供電，內置高性能采樣保持電路和片內基準電壓源。該產品采用多級差分流水線架構，內置輸出糾錯邏輯，在 125 MSPS 數據速率時可提供 14 位
精度，并保證在整個工作溫度范圍內無失碼。該 ADC 內置多種功能特性，可使器件的靈活性達到最佳、系統成本最低，例如生成可編程數字測試碼等。可獲得的數字測試碼包括內置固定碼和偽隨機碼，以及通過串行端口接口(SPI)輸入的用戶自定義測試碼。采用一個差分時鐘輸入來控制所有內部轉換周期。數字輸出數據格式為偏移二進制、格雷碼或二進制補碼。每個 ADC 通道均有一個數據輸出時鐘(DCO)，用來確保接收邏輯具有正確的鎖存時序。該器件支持 1.8V CMOS 輸出及 LVDS 輸出，輸出數據可以在單條輸出總線上多路復用。SC1259 采用符合 RoHS 標準的 64 引腳的 QFN 封裝。

主要性能
?  1.8V 電源供電
?  1.8V CMOS or LVDS 輸出電源
?  低功耗：
522mW (125MSPS)
?  信噪比(SNR)：
73dBFS（30.5MHz 輸入）
?  無雜散動態范圍（SFDR）：
82dBFS（30.5MHz 輸入）
?  微分非線性(DNL)：±0.75LSB(典型值)
?  片內基準電壓源和采樣保持電路
?  QFN-64 封裝 9mm× 9mm 
應用場合
?  通信
?  分集無線電系統
?  多模式數字接收機(3G)
GSM, EDGE, WCDMA, LTE,
CDMA2000, WiMAX, TD-SCDMA
?  I/Q 解調系統
?  智能天線系統
?  通用軟件無線電
?  寬帶數據應用
?  超聲設備
?  功能模塊示意圖：
圖 1 芯片模塊示意圖

極限參數
AVDD 至 AGND ………………………………………-0.3V 至 2V
DRVDD 至 AGND ………………………………………-0.3V 至 3.9V
輸入電壓(VIN+/-, CLK+/-, VREF, SENSE, VCM, RBIAS)… -0.3V 至 AVDD+0.2V
輸入電壓(CSB, SCLK, SDIO, PDWN) ………………………-0.3V 至 DRVDD+0.3V
輸出電壓(DCOA,DCOB,D0A/D0B 至 D13A/D13B)………………………-0.3V 至 DRVDD+0.3V
最大結溫 TJ,MAX…………………………………150°C
工作溫度范圍…………………………………-40°C 至 85°C
存儲溫度范圍…………………………… -65°C 至 150°C
ESD(Human Body Model) ………………………………2000V
注意：對以上所列的最大極限值，如果器件工作在超過此極限值的環境中，很可能會對器件造成永久性破壞。內建自測試（BIST）BIST 是對所選 SC1259 信號路徑的數字部分的徹底測試。復位后執行 BIST 測試，以確保部件處于已知狀態。在 BIST 期間，來自內部偽隨機噪聲（PN）源的數據從 ADC 塊輸出開始，通過兩個通道的數字數據路徑驅動。在數據路徑輸出處，CRC 邏輯根據數據計算簽名。BIST 序列運行512 個周期，然后停止。一旦完成，BIST 會將簽名結果與預先確定的值進行比較。如果簽名匹配，BIST 設置寄存器 0x24 的位 0，表示測試通過。如果 BIST 測試失敗，寄存器 0x24 的位 0 被清除。在這個測試過程中，輸出是連接的，因此可以觀察到 PN 序列運行。將值 0x05 寫入寄存器 0x0E 運行 BIST。這將啟用寄存器 0x0E 的位 0（BIST 啟用），并重置 PN 序列生成器，寄存器 0x0E 的位2（BIST  INIT）。在 BIST 完成時，寄存器 0x24 的位 0 被自動清除。通過在寄存器 0x0E 的位 2 中寫入 0，可以從最后一個值繼續 PN 序列。但是，如果 PN 序列沒有重置，則簽名計算不等于測試結束時的預定值。此時，用戶需要依賴于驗證輸出數據。
輸出測試模式
表 11 描述了地址 0x0D 處的輸出測試選項。當啟用輸出測試模式時，ADC 的模擬部分與數字后端塊斷開連接，測試模式通過輸出格式化塊運行。一些測試模式受輸出格式的約束，而有些則不是。通過設置寄存器 0x0D 的位 4 或位 5，可以重置來自 PN 序列測試的 PN 發生器。這些測試可以使用或不使用模擬信號（如果存在，則忽略模擬信號），但它們確實需要編碼時鐘。在實際運用中，最好不要使器件工作在此極限值或超過此極限值的環境中。